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硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱

耐紫外老化試驗箱QUV適用于硅膠,abs塑料,pvc,薄膜以及IC芯片等產品的氙燈老化測試。

  • 品 牌Q-LAB
  • 型 號QUV
  • 產 地美國
  • 規(guī) 格
特 點

耐紫外老化試驗箱QUV適用于硅膠,abs塑料,pvc,薄膜以及IC芯片等產品的氙燈老化測試。

QUV 硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱圖片1
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硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱產品詳情

產品簡介

紫外老化測試是用于檢測硅膠產品的耐紫外線性能的一種測試方法。紫外線是一種高能量的光線,具有較強的破壞性,它可以對硅膠產品產生損害,影響其使用壽命和性能。因此,紫外老化測試是硅膠產品質量檢測的重要環(huán)節(jié),可以有效地檢測硅膠產品的耐紫外線性能,保證其質量和使用壽命。

紫外老化測試是為了評估ABS塑料在長期紫外線輻射下的耐受性。ABS塑料在長期紫外線照射下,會出現(xiàn)強度下降、變色、熔點降低、表面粗糙等情況,紫外老化測試可以檢測出這些變化,從而可以更好地預測ABS塑料的使用壽命,從而為設計者提供更多的參考依據。

紫外老化測試是為了了解塑料薄膜在長期紫外線輻射下的耐受性,以及其對紫外線的抗性。紫外線輻射會使塑料薄膜發(fā)生化學變化,使其失去彈性和硬度,影響其功能性能和使用壽命。因此,紫外老化測試可以幫助我們確定塑料薄膜在長期紫外線輻射下的耐受性,以及其對紫外線的抗性。

紫外老化測試可以模擬太陽輻射的影響,以檢測IC芯片的耐久性和可靠性。IC芯片在實際應用中可能會長期受到太陽輻射的影響,因此,通過紫外老化測試可以有效地檢測其耐久性和可靠性,從而確保其在實際應用中的可靠性和可靠性。

耐紫外老化試驗箱QUV適用于硅膠,abs塑料,pvc,薄膜以及IC芯片等產品的氙燈老化測試。

工作原理

太陽光紫外線(模擬陽光)

QUV硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱采用熒光紫外燈模擬陽光對材料的老化。盡管紫外線(UV)能量只占陽光總能量的?5%,但是它卻是造成戶外產品性能下降的主要因素,所以僅通過紫外光照就可以測試高分子材料的降解老化。

QUV硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱可以安裝使用多種類型的紫外燈管。每種燈管的總UV能量和光譜是各不相同的。UVA-340燈管的光譜在295nm到 365nm范圍內,非常好地模擬陽光紫外線,因此UVA-340測試與戶外曝曬的相關性很好。UVB-313燈管發(fā)出的短波紫外光比一般地球表面的陽光紫外線要強,它可以很大程度地提高試驗速度。客戶應根據產品不同的使用條件,選擇合適的燈管。


硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱光譜

UVA-340可非常接近地模擬太陽光中短波長紫外線。 太陽輻照度控制系統(tǒng)可增強輻照度并加快測試進程。

潮濕冷凝(模擬露水)

用戶可設定紫外光照強度和潮濕循環(huán),用來模擬自然老化環(huán)境。研究表明,造成戶外產品潮濕的主要因素是露水。因為露水長時間停留在物體的表面,使得材料充分濕潤,所以露水對材料的破壞比雨水更嚴酷。

QUV硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱長時間的熱冷凝循環(huán),比其他模擬方法如噴淋、浸潤和高相對濕度等,能更好地模擬戶外潮濕條件。

硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱潮濕冷凝功能

水噴淋(模擬雨水)

QUV硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱還可選配水噴淋裝置用于模擬戶外雨水、熱沖擊和應力腐蝕對材料的破壞。

溫度

光照和潮濕對材料的破壞,一般會隨著溫度的升高而加速。QUV的溫度控制系統(tǒng)準確可靠,并可提高試驗溫度用于加速實驗。QUV硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱可最高設定到80℃。

產品特色

◆非常真實地模擬太陽光中的紫外線

◆ 輻照度閉環(huán)控制系統(tǒng),連續(xù)監(jiān)控、快速校準

◆ 模擬與自然潮濕一致的冷凝功能

◆ 可選相關性較佳的UVA340燈管,或加速試驗速度的UVB313燈管

◆ 光譜穩(wěn)定,燈管使用壽命5000小時

◆ 自我診斷報警與維護提醒

◆ 維護少、運行費用低

◆ 全球數(shù)以千計用戶與質檢機構連續(xù)使用驗證

產品實圖

硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱詳情圖1

硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱詳情圖2

硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱詳情圖3

QUV硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片耐紫外老化試驗箱延伸技術資料

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